摘要
平面天线近场测量技术作为一种精确高效的天线测量手段，在现代无线通信、雷达系统、航空航天等领域发挥着至关重要的作用。
该技术利用扫描架系统在靠近天线表面的平面内进行场强采样，并将获取的近场数据通过数学变换得到天线的远场特性。
相较于远场测量，近场测量具有测量精度高、场地需求小、可测参数多等优势，尤其适用于大型天线、阵列天线等远场条件受限的天线测量。
本文围绕平面天线近场测量扫描架系统展开研究，首先阐述了平面天线近场测量的基本原理和发展历程，并介绍了扫描架系统的基本构成和关键技术。
接着，本文重点探讨了平面天线近场测量扫描架系统的设计方法，包括机械结构设计、控制系统设计、数据采集与处理等方面。
此外，本文还分析了影响测量精度的主要因素，并总结了提高测量精度的关键技术。
最后，本文展望了平面天线近场测量扫描架系统未来的发展趋势，并对其应用前景进行了展望。
关键词：平面天线；近场测量；扫描架系统；探头补偿；近远场变换
随着无线通信技术的飞速发展，天线作为无线通信系统中不可或缺的关键部件，其性能直接影响着通信系统的质量和效率。
为了评估天线的性能，天线测量技术应运而生，并不断发展完善。
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